Teszt szöveg  
     

Független magyar kiadók könyvei


Nagy László; Buzás Norbert: Modern röntgenanalitikai módszerek

Miért becsült az ár?

Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a Forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a Forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.

Miért nem adják meg egészen pontosan a beszerzés időigényét?

A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.

Cím:

Modern röntgenanalitikai módszerek

Szerző:

Nagy László; Buzás Norbert

ISBN13:

3159780001343

ISBN10:

9780001344

Kiadó:

JATEPress (Szegedi Tudományegyetem kiadója)

Megjelenés dátuma:

1996. január 05

Kötetek száma:

1

Kötéstípus:

Puhakötés

Terjedelem:

112 oldal

Súly:

188 g

Listaár:

630 Ft (áfával)

Beszerezhetőség:

A kiadónál véglegesen elfogyott, nem rendelhető

Nyelv:

magyar

Témakör:

További műszaki könyvek

 

Tartalomjegyzék:

I. rész: RÖNTGENFOTOELEKTRON-SPEKTROSZKÓPIA
1. A fotoelektron-spektroszkópia rövid története és terminológiája
2. Elméleti alapok
2.1. Fotoelektron emisszió
2.2. Auger-elektronok
3. Kísérleti technika
3.1. A berendezés felépítése és működése
3.2. Mintaelőkészítés
3.3. Különböző halmazállapotú minták vizsgálata
3.4. A minta bomlása
3.5. Belső standardok
4. A fotoelektron spektrum
4.1. A fontosabb sávtípusok
4.1.1. Fotoelektron csúcsok
4.1.2. Auger sorozatok
4.1.3. Kísérő („satellite”) csúcsok
4.1.4. Szellem („ghost”) csúcsok
4.2. Vonalfelhasadás
5. A kémiai eltolódás
5.1. Az eltolódás fogalma
5.2. A kémiai eltolódás kapcsolata az oxidációs számmal
5.3. A módosított oxidációs szám
6. Az XPS felhasználása
6.1. Minőségi és mennyiségi analízis
6.2. Molekulapályákra vonatkozó mérések
6.3. Sávszerkezet-kutatás
6.4. Felületvizsgálatok
6.5. Komplexkémiai alkalmazások
7. Az XPS összehasonlítása egyéb felületvizsgáló módszerekkel
7.1. AES módszer
7.2. PIXE spektroszkópia
7.3. SIMS technika

II. rész: AZ EXAFS ÉS XANES SPEKTROSZKÓPIA
1. Az EXAFS elmélet kifejlődésének története
2. A szinkrotronsugárzás tulajdonságai
3. Az EXAFS elmélete és a mérési adatok feldolgozása
4. Az EXAFS alkalmazásai
4.1. Koordinációs kémiai alkalmazások
4.1.1. Szervetlen ligandumokkal képzett komplexek lokális szerkezete
4.1.2. Szerves ligandumokkal képzett komplexek szerkezete
4.1.2.1. A kobalt(II)- és a kobalt(III)-komplexek szerkezete
4.1.2.2. A különböző oxidációs állapotú nikkelion komplexeinek lokális szerkezete
4.1.2.3. A réz(II)-komplexek vizsgálata
4.1.2.4. A különböző oxidációs állapotú vaskomplexek lokális szerkezete
4.1.2.5. A cink-, a kadmium-, a mangán-, a vanádium- és a titán-komplexek szerkezete
4.1.2.6. Az átmenetifémek második és harmadik periódusába tartozó fémkomplexek lokális szerkezetéről
4.1.2.7. Egyéb fémkomplexek lokális szerkezete

A további utánolvasásra ajánlott irodalom

 
Copyright © 2000-2022. Minden jog fenntartva. Prospero Könyvei Budapest
Csomagküldő kereskedelmi tevékenység nyilvántartási száma: C/003 272  A Prospero a Prospero Könyvei Budapest Kft. EU Közösségi Védjegye (OHIM No. 003781564)
Prospero Könyvei Kft. | 1066 Budapest, Weiner Leó u. 20. | Tel.: (06-1) 301-0642, Fax: (06-1) 302-8410

Weboldalunkon cookie-kat (sütiket) használunk, melyek célja, hogy teljesebb körű szolgáltatást nyújtsunk látogatóink részére. Tudjon meg többet Elfogadom

/katalogus/konyvek/index.html